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产品应用案例

1.XRF-650T是专门针对电镀层等测试要求设计得一款产品。 2.打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。 3.采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确。 4.一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化。 5.兼容Microsoft Windows作业系统之软件。 6.使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚。

产品详情
XRF-650T技术规格书
1.产品名称及机型指标介绍:
1.1.  产品名称及型号:能量色散X荧光射线膜厚分析仪-------XRF-650T

1.2. 工作条件
工作温度:15-30
相对湿度:40%50% 
    源:AC :220V ±5%
1.2. 技术性能及指标:
1.2.1 测厚技术:X射线荧光测厚技术
1.2.2 测试样品种类:金属镀层、合金镀层;
1.2.3. 测量时间:15秒;  
1.2.4. 探测器类型:比例计数器电制冷
1.2.5. CCD:300万像素
1.2.6 电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源。)
1.3.产品特点
1.3.1XRF-650T是专门针对电镀层测试要求设计得一款产品。
1.3.2打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。
1.3.3采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确。

1.3.4一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化。
1.3.5兼容Microsoft Windows作业系统之软件

1.3.6使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚
1.3.7多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品最高级。
1.3.8拥有多种Filter选择性
1.3.9各种样品单层至多层(5),合金膜厚与溶液均可量测
1.3.10定点自动定位分析
1.3.11光径对准全自动化
1.3.12影像重叠功能
1.3.13自动显示量测参数

1.3.14彩色区别量测数据
1.3.15多重统计显示视窗与报告编辑应用
1.3.16 2D/3D, 任意位置量测控制
1.3.17 Y轴全自动控制
1.3.18雷射对焦与自动定位系统
1.3.19 X-ray运作待命(睡眠)控制
1.3.20温控稳定延长校准时效
1.3.21全进口美日系零件价格优势及服务时效快
1.3.22先进的一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全。
1.3.23镀层专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便。
可实现编程跑程序。
1.3.24本机采用USB2.0接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输。

2.专用软件
2.1.软件简介
专门针对元素成分检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
2.2功能介绍

专门检测电镀层厚度,测量时间为15.
※操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作
 独有的机芯温度监控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
3. 产品保修及售后服务  
3.1 对客户方操作人员免费进行培训。
3.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。
3.3正常使用,经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器自验收合格之日起保修12个月
3.4  产品终身维修。(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证,发票和保修卡等)
3.5  免费提供软件升级;
3.6  提供最有效的技术服务,在接到用户故障信息后,2小时内响应,如有需要,48小时内派人上门维修和排除故障。
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